目前電子產(chǎn)品外型表面缺陷人工檢查工作量大，效率低而且漏檢率高，迫切需求產(chǎn)品缺陷的自動化檢查;實(shí)際檢查中，塑料制品表面在發(fā)光條件下會呈現(xiàn)反光，嚴(yán)重妨礙后續(xù)處理;缺陷微小且與制品顏色對比不比較明顯，采納直截了當(dāng)閾值沒法分割;對于這一現(xiàn)狀將機(jī)器視覺技術(shù)與虛擬儀器相結(jié)合，依據(jù)產(chǎn)品缺陷特征，選用合適的發(fā)光方案抑制反光，利用銳化濾波獵取了缺陷位置特征清晰的圖象，并對邊緣模糊缺陷有效分割;識不結(jié)果表明，圖象處理算法平穩(wěn)，對絕大部分缺陷具有良好的檢查效果。
半導(dǎo)體芯片普遍應(yīng)用于各顆領(lǐng)域，各類電子產(chǎn)品，差不多成為經(jīng)濟(jì)進(jìn)展，國家信息內(nèi)容安全的命脈，深刻妨礙著現(xiàn)代人類的生活.在半導(dǎo)體芯片封裝制造過程中，不可幸免地在芯片表面產(chǎn)生各類缺陷，直截了當(dāng)妨礙到芯片的運(yùn)行效能及壽命。傳統(tǒng)人工目視檢查法差不多難以習(xí)慣半導(dǎo)體芯片封裝制造的高速，高周密度的檢查需求.利用機(jī)器視覺技術(shù)對芯片表面缺陷展開檢查，具有無接觸無損傷，檢查周密度高，速度快，平穩(wěn)性高等優(yōu)點(diǎn).盡管目前基于機(jī)器視覺的芯片缺陷檢查技術(shù)在芯片打印字符，引足外型外形尺寸部位等方面的研究已取得很好的進(jìn)展，但關(guān)于芯片表面的外型缺陷檢查與分類研究尚處于起步。
機(jī)器視覺作為一項(xiàng)先進(jìn)自動化檢查技術(shù)，可有效提升成產(chǎn)效率和工業(yè)制造水平，視覺檢查可應(yīng)用于產(chǎn)品外型缺陷自動識不。
