2020-12-21 16:24:48 0
手機(jī)殼外觀視覺(jué)檢測(cè)
手機(jī)殼體表面會(huì)存在劃痕、磕碰、凹坑等缺陷，傳統(tǒng)檢測(cè)表面缺陷的方法是人工檢測(cè)法，但是人工檢測(cè)法受人的主觀因素干擾比較大，而且人工檢測(cè)效率低，成本高，很大程度上限制了產(chǎn)品質(zhì)量的提升。
機(jī)器視覺(jué)是在計(jì)算機(jī)、電子工程等學(xué)科基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的一個(gè)新的研究方向。一個(gè)典型的機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)主要包括檢測(cè)對(duì)象、計(jì)算機(jī)、光源和相機(jī)等，如下圖所示。機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)首先需要在一定的光照模式下通過(guò)相機(jī)對(duì)目標(biāo)進(jìn)行圖像采集，然后由計(jì)算機(jī)對(duì)圖像進(jìn)行檢測(cè)，最后顯示檢測(cè)結(jié)果。
瑞智需要檢測(cè)的是手機(jī)殼體側(cè)表面缺陷，手機(jī)殼體側(cè)表面根據(jù)光反射率的不同可以分為高光表面和亞光表面， 高光表面為平面， 而亞光表面既有平面又有曲面。
手機(jī)殼體表面的缺陷類(lèi)型多樣， 有劃痕、 邊緣磕碰、凹坑、 刀紋等， 瑞智對(duì)待檢測(cè)的手機(jī)殼體表面進(jìn)行檢查分析得出， 要檢測(cè)的手機(jī)殼體表面90%多的缺陷為劃痕缺陷和孔洞邊緣磕碰缺陷， 因此瑞智針對(duì)手機(jī)殼體高光表面和亞光表面的劃痕缺陷以及亞光表面孔洞邊緣磕碰缺陷的檢測(cè)進(jìn)行了深入研究， 對(duì)于不同情況下的缺陷檢測(cè)采用不同的照明方式以獲取利于后續(xù)缺陷檢測(cè)的清晰圖像， 針對(duì)不同情況下缺陷的特點(diǎn)采用不同的缺陷檢測(cè)算法實(shí)現(xiàn)表面缺陷的檢測(cè)。
機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)有以下優(yōu)點(diǎn)：
(1)實(shí)時(shí)性好；
(2)自動(dòng)化程度高；
(3)非接觸性；
(4)精度高；
(5)可靠性好。
因此，把機(jī)器視覺(jué)用于手機(jī)殼體表面缺陷的檢測(cè)將是行業(yè)未來(lái)發(fā)展的重要方向。
